Substrat de recuperare fictiv de tip P/N (100) cu plachetă de siliciu de 8 inch, 1-100 Ω

Substrat recuperabil fictiv de tip P/N (100) cu placă de siliciu de 8 inch, imagine prezentată

Scurtă descriere:

Stoc mare de napolitane lustruite față-verso, toate napolitanele cu diametrul de la 50 la 400 mm. Dacă specificația dumneavoastră nu este disponibilă în inventarul nostru, am stabilit relații pe termen lung cu mulți furnizori care sunt capabili să fabrice napolitane personalizate pentru a se potrivi oricărei specificații unice. Napolitanele lustruite față-verso pot fi utilizate pentru siliciu, sticlă și alte materiale utilizate în mod obișnuit în industria semiconductorilor.

Trimiteți-ne un e-mail

Caracteristici

Introducerea cutiei de napolitane

Placheta de siliciu de 8 inci este un material de substrat de siliciu utilizat în mod obișnuit și este utilizată pe scară largă în procesul de fabricație a circuitelor integrate. Astfel de plachete de siliciu sunt utilizate în mod obișnuit pentru a realiza diverse tipuri de circuite integrate, inclusiv microprocesoare, cipuri de memorie, senzori și alte dispozitive electronice. Plachetele de siliciu de 8 inci sunt utilizate în mod obișnuit pentru a realiza cipuri de dimensiuni relativ mari, având avantaje precum o suprafață mai mare și capacitatea de a realiza mai multe cipuri pe o singură plachetă de siliciu, ceea ce duce la o eficiență sporită a producției. Placheta de siliciu de 8 inci are, de asemenea, proprietăți mecanice și chimice bune, fiind potrivită pentru producția de circuite integrate la scară largă.

Caracteristicile produsului

Placă de siliciu lustruită, tip P/N de 8" (25 buc.)

Orientare: 200

Rezistență: 0,1 - 40 ohm•cm (Poate varia de la lot la lot)

Grosime: 725+/-20um

Grad de primăvară/monitorizare/testare

PROPRIETĂȚI ALE MATERIALELOR

Parametru	Caracteristică
Tip/Dopant	P, N de bor, N de fosfor, N de antimoniu, Arsenic
Orientări	Orientări de tăiere <100>, <111> conform specificațiilor clientului
Conținut de oxigen	10¹⁹ppmA Toleranțe personalizate conform specificațiilor clientului
Conținut de carbon	< 0,6 ppmA

PROPRIETĂȚI MECANICE

Parametru	Prim	Monitor/ Test A	Test
Diametru	200±0,2mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Grosime	725±20µm (standard)	725±25µm (standard) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Arc	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Înfășurare	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Rotunjirea muchiilor	SEMI-STD
Marcare	Doar SEMI-Plat primar, SEMI-STD Plate Jeida Plat, Notch

Parametru	Prim	Monitor/ Test A	Test
Criterii pentru partea frontală
Starea suprafeței	Lustruit chimic mecanic	Lustruit chimic mecanic	Lustruit chimic mecanic
Rugozitatea suprafeței	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Contaminare Particule la >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Ceață, Gropi Coajă de portocală	Nici unul	Nici unul	Nici unul
Fierăstrău, Mărci Striații	Nici unul	Nici unul	Nici unul
Criterii pentru partea din spate
Crăpături, urme de labe de gâscă, urme de fierăstrău, pete	Nici unul	Nici unul	Nici unul
Starea suprafeței	Gravat caustic